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当社は日産自動車から誕生した出発点がユニークな分析会社です。幅広い材料に対して高いレベルで対応できる研究者と設備を有しています。

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カテゴリ別一覧

無機材料・薄膜関係

高感度TEM-EDXを用いた排ガス浄化触媒の3Dパラメータ解析

高感度TEM-EDXを用いた排ガス浄化触媒の3Dパラメータ解析

貴金属・助触媒の分散状態や基材の空孔構造が把握できます。

触媒の品質管理に役立つ分析技術

触媒の品質管理に役立つ分析技術

触媒は多くの分野にて開発が進められています。この開発にあたり、触媒の担体金属の濃度管理などの品質管理、元素分析による濃度把握などの劣化解析、機能向上のための構造解析などが必要とされています。

Double cantilever beam (DCB) 法による薄膜の密着性評価

Double cantilever beam (DCB) 法による薄膜の密着性評価

多層膜中の最も弱い部分 (膜内部と界面近傍) の密着性を定量的に評価します。硬質基板に限らず、高分子基板上の多層膜やリチウムイオン二次電池の電極などにも対応できます。

電子線表面イメージング顕微鏡による観察事例

電子線表面イメージング顕微鏡による観察事例

電子顕微鏡法で試料の「最表面」に関する情報を得る場合、入射電子の加速電圧を極力抑える必要があります。従来型の走査型電子顕微鏡(SEM)の場合、加速電圧は1〜10kV程度ですので、これ以下の加速電圧では二次電子、反射電子の強度低下により、高倍率で鮮明な像を得ることは難しくなります。
当社の「電子線表面イメージング顕微鏡(Electron Probe-Surface Imaging Microscope:EPーSIM)」は、極低加速電圧領域での元素分析・電子回折はもとより高倍率で鮮明な像を得られます。

ナノ導電性測定法による変形と電気特性同時評価

ナノ導電性測定法による変形と電気特性同時評価

ナノ導電性測定法はインデンテーション技術と電気測定技術を組み合わせた手法であり、変形と電気特性の同時測定が可能です。表面の絶縁膜の検出や電圧-電流特性の評価に有用です。

「FIB低加速仕上げ法」により高分解能TEM観察が可能になりました。

「FIB低加速仕上げ法」により高分解能TEM観察が可能になりました。

従来、収束イオンビーム(FIB)加工した試料にはダメージ層が存在するため、FIB加工は高分解能観察や表面観察などには不向きとされていました。このたび当社では「低加速仕上げ法」を開発し、これにより高分解能TEMや後方散乱電子回折(EBSP)の前処理としてFIB加工の適用が可能になりました。
「低加速仕上げ法」とは、FIB加工時に生じる試料表面のダメージ層を、イオンビームの加速を2kVまで下げて加工を行うことで、できるだけ薄くするという方法です。

ナノ力学物性の計測・評価技術

ナノ力学物性の計測・評価技術

日産アークは微小領域や薄膜の力学物性【ナノ力学物性】の計測・評価が得意です。

ナノインデンテーション法の高精度・温度制御測定

ナノインデンテーション法の高精度・温度制御測定

ナノインデンテーション法では、微小領域や薄膜の硬さ・弾性率の測定が可能です。
“硬さ”は外部から力を加えた時の材料のもつ抵抗力、“弾性率”は弾性変形のしにくさの物性値を表します。特に、硬さは全ての変形機構(弾性・塑性・粘性)を含むため、より直感的な評価指標として品質管理などに有用です。

高精度測定(最薄試料厚さ:50nm,位置指定精度:30nm)および
温度制御測定(試料表面温度:-120℃〜500℃,真空中)も可能です。