サービス案内
分析別一覧

形態解析及び微小部元素分析

内部構造の非破壊可視化サービス

内部構造の非破壊可視化サービス

X線透視像、X線CT像(断層像、3次元像)を用いて、部品の内部構造を非破壊で可視化します。

Smartオンゴーイング信頼性試験

Smartオンゴーイング信頼性試験

従来の連続信頼性試験では、終了した時点で各種評価を複数の機関で行っていたため、どの時点で故障が起きたのかわかりにくく、評価結果のフィードバックも遅くなりがちでした。日産アークが開始するSmartオンゴーイング試験サービスでは、信頼性試験や各種評価をすべて自社で行うため、異常発生を速やかにとらえ、過剰劣化を防ぎ、迅速なフィードバックが可能です。特に、SiCやGaNなどの次世代パワーデバイスで必要な高温信頼試験(〜300℃)も可能です。

電子線表面イメージング顕微鏡による観察事例

電子線表面イメージング顕微鏡による観察事例

電子顕微鏡法で試料の「最表面」に関する情報を得る場合、入射電子の加速電圧を極力抑える必要があります。従来型の走査型電子顕微鏡(SEM)の場合、加速電圧は1〜10kV程度ですので、これ以下の加速電圧では二次電子、反射電子の強度低下により、高倍率で鮮明な像を得ることは難しくなります。
当社の「電子線表面イメージング顕微鏡(Electron Probe-Surface Imaging Microscope:EPーSIM)」は、極低加速電圧領域での元素分析・電子回折はもとより高倍率で鮮明な像を得られます。

「FIB低加速仕上げ法」により高分解能TEM観察が可能になりました。

「FIB低加速仕上げ法」により高分解能TEM観察が可能になりました。

従来、収束イオンビーム(FIB)加工した試料にはダメージ層が存在するため、FIB加工は高分解能観察や表面観察などには不向きとされていました。このたび当社では「低加速仕上げ法」を開発し、これにより高分解能TEMや後方散乱電子回折(EBSP)の前処理としてFIB加工の適用が可能になりました。
「低加速仕上げ法」とは、FIB加工時に生じる試料表面のダメージ層を、イオンビームの加速を2kVまで下げて加工を行うことで、できるだけ薄くするという方法です。

Nano-IR測定法の4つの機能

Nano-IR測定法の4つの機能

Nano-IR測定法には4つの測定機能が有ります。
 1.AFM像観察:試料の形状観察でありnano-IRにおける基本測定
 2.スペクトル測定:ナノレベルでの化学情報を測定
 3.連続スペクトル測定:ラインまたはエリアについて連続してスペクトルを測定
 4.ケミカルイメージ測定:特定波数による官能基の分布を可視化

Nano-IR測定の原理

Nano-IR測定の原理

Nano-IR測定とは、ナノスケールの分解能を有する新しい赤外分光分析技術です。通常のFT-IRより1/200である50 nmの対象物から赤外分光スペクトルを得ることが可能な分析法です。

オリジナル技術N-ARC法による押しピンの断面観察

オリジナル技術N-ARC法による押しピンの断面観察

・N-ARC法は当社のオリジナル技術で、樹脂の断面観察法です。
・樹脂の流れやウェルドラインを鮮明に観察することができます。
・金属などの硬度が異なる材料が含まれていても断面調製は可能です。

オリジナル技術N-ARC法による引張試験片の断面観察

オリジナル技術N-ARC法による引張試験片の断面観察

・N-ARC法は当社のオリジナル技術で、樹脂の断面観察法です。
・樹脂の流れや結晶化樹脂の球晶を鮮明に観察することができます。
・せん断流層の状態、充填材やボイドの分布状態を明らかにすることができます。