元素分析
| 設備名称 | 付属装置 | メーカー | 型式 | 機能 |
|---|---|---|---|---|
| 原子吸光分析装置（AA） | VARIAN | SpectrAA55 | ||
| 日立製作所（HITACHI） | Z-2300 | フレーム方式 | ||
| 誘導結合プラズマ発光分光分析装置（ICP-AES） | ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ（SII） | SPS 3520UV | 分可能：0.0045nm 測定可能領域：130nm〜770nm | |
| JOBIN YVON | JY-Ultima2C | 分光器焦点距離：1m, 回析格子溝数：4,320本/mm | ||
| 誘導結合プラズマ質量分析装置（ICP-MS） | ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ（SII） | SPQ-9000 | 四重極型質量分析装置 | |
| 固体発光分光分析装置（AES） | HERZOG | ARL-4460 | 分光器焦点距離：1m, 回析格子溝数：1,080本/mm | |
| 蛍光X線分析装置（XRF） | 理学電機（Rigaku） | ZSX-100s | 最大X線出力：2.5kW（50kV-50mA）, Cr管球 | |
| 堀場製作所（HORIBA） | XGT-5000 | 分解能：20μm, 最大マッピングエリア：100×100mm | ||
| 水分測定装置 | ﾀﾞｲﾔｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ | CA-100 | 気化装置VA100型付き | |
| 水銀分析装置 | 日本ｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ（NIC） | MA-2 | 加熱気化全自動水銀測定, 測定範囲：0.002〜1,000ng | |
| 炭素硫黄同時分析装置（CS） | 堀場製作所（HORIBA） | EMIA-520SP | 測定方式：赤外線吸光法 | |
| 水分測定装置 | ﾀﾞｲﾔｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ | CA-100 | 気化装置VA100型付き | |
| 分光光度計（UV-VIS） | 日立製作所（HITACHI） | U-3500 | 分光器（ダブルモノクロ）：190〜3,500nm | |
| イオンクロマトグラフ（IC） | DIONEX | ICS-3000 | 陰イオン, 陽イオン, 有機酸 | |
| DIONEX | ICS-1500 | 陰イオン | ||
| 燃焼前処理装置 | 三菱化学 | AQF-100 | 最高温度：1100℃ | |
