アコースティック・エミッション法によるCFRPの層間剥離プロセス解析
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微小部の密着性評価とAFMおよびTEMでの剥離形態観察
電装品の導通不良原因調査
4PB法による薄膜の密着性評価
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新規導入装置 X線分析顕微鏡 (μ-XRF) の紹介
高感度EDX、高傾斜3Dトモグラフィー、クライオホルダ搭載の高感度TEM分析
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