フーリエ変換赤外分光分析法(FT-IR)、X線光電子分光分析法(XPS)、エネルギープローブマイクロアナライザー法(EPMA)など複数の分析手法を組み合わせることで、高分子材料の劣化メカニズムを解析することができます。
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