X線小角散乱法 (SAXS) による導電性金属材料のナノ析出物解析

X線小角散乱法 (SAXS) は系統的な平均構造評価を行う上で、極めて有効な分析法です。ここではコネクタ用途などで用いられる導電性金属材料を用いて、時効時間を変化させた場合の合金中析出物の粒子径について、X線小角散乱法により評価しました。

マクロ的な評価が難しい金属材料中の析出物に対してX線小角散乱法を用いることで、合金組成・時効時間・材料強度などの一連の条件変化に対応した粒子径・サイズ分布や粒子形状などの析出物情報を得ることができます。

Cu-Ti合金の散乱曲線

等温時効による析出物径の変化

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