赤外分光分析法 (FT-IR) による電解質膜のin-situ分析

・温度や雰囲気を変えながら、試料の構造変化をリアルタイムに分析できます。
・静的な測定に比べ、試料の状態変化が見やすくなります。
・硬化反応や分解反応にも応用できます。

図1 ナフィオン電解質膜のin-situ赤外分光分析事例

(a) 赤外吸収スペクトル

加湿空気中では、スルホン酸変質物の生成が少なく、ナフィオン膜の劣化が抑制されていることがわかった。

(b) 雰囲気と温度によるスルホン酸の変化

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