サービス案内

当社は日産自動車から誕生した出発点がユニークな分析会社です。幅広い材料に対して高いレベルで対応できる研究者と設備を有しています。

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分析別一覧

表面分析

AESによるSi系負極の元素分布分析

AESによるSi系負極の元素分布分析

新しいAES装置の導入により、位置分解能が向上しました。

Smartオンゴーイング信頼性試験

Smartオンゴーイング信頼性試験

従来の連続信頼性試験では、終了した時点で各種評価を複数の機関で行っていたため、どの時点で故障が起きたのかわかりにくく、評価結果のフィードバックも遅くなりがちでした。日産アークが開始するSmartオンゴーイング試験サービスでは、信頼性試験や各種評価をすべて自社で行うため、異常発生を速やかにとらえ、過剰劣化を防ぎ、迅速なフィードバックが可能です。特に、SiCやGaNなどの次世代パワーデバイスで必要な高温信頼試験(〜300℃)も可能です。

“EC-in-situ RAMAN法”による電池の状態解析

“EC-in-situ RAMAN法”による電池の状態解析

電池反応の解析には活物質や電解液の状態をその場で分析することが重要です。
EC-in-situ RAMAN法(Electrochemical-in-situ RAMAN spectroscopy)は、光学セルを用いて電位を制御した状態でRAMAN分析を行う手法です。
日産アークでは、充放電を行いながら活物質や電解液の情報を得ることや、一定電位で活物質や電解液の状態およびその分布を見ることができます。

X線散乱法による薄膜構造キャラクタリゼーション

X線散乱法による薄膜構造キャラクタリゼーション

nm薄膜や多様な結晶性の薄膜まで、様々な構造情報を提供します。

X線反射率法(XRR)による薄膜の膜厚、密度、界面状態解析

X線反射率法(XRR)による薄膜の膜厚、密度、界面状態解析

・nm〜数100nmの薄膜の膜厚、密度、ラフネスを定量的に評価できます。
・界面・表面の改質層、変質層を定量的に捉えることできます。
・材質を問わず、結晶質、非晶質のいずれも測定できます。

粉末X線回折パターンのリートベルト解析

粉末X線回折パターンのリートベルト解析

・格子定数や格子内の原子の位置を正確に求めることができます。
・種々の温度で真空または各種雰囲気中で測定した回折パターンに適用可能です。

X線を用いた薄膜の配向性評価

X線を用いた薄膜の配向性評価

・結晶の方位分布を評価できます。
・結晶子径も測定・解析できます。

X線反射率法による薄膜の線膨張率測定

X線反射率法による薄膜の線膨張率測定

・wafer基板上の薄膜の線膨張率を評価できます。
・高温下での膜厚変化をサブnmの精度でダイレクトに観察できます。