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正極材の表面被膜分析
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X線吸収微細構造（XAFS）による触媒の構造および状態解析
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X線散乱法による薄膜構造キャラクタリゼーション
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X線小角散乱法（SAXS）による液体中に分散したナノ粒子の構造解析
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X線分析顕微鏡によるミクロおよびマクロ観察
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X線小角散乱（SAXS）法によるナノサイズ周期構造の評価
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斜入射X線小角散乱（GI-SAXS）法による薄膜内のナノ構造の評価
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広域X線逆格子マッピング法による強配向膜の結晶相解析
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半導体のエネルギーバンド解析技術
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スポット溶接部の残留応力解析ができます
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