それぞれの装置の分析技術について、当社の専門家がわかりやすく、原理や得られる結果、適用方法などを解説します。
新規導入装置 極低加速電圧走査電子顕微鏡の紹介
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ガスクロマトグラフ-質量分析計 (GC-MS) をわかりやすく解説
斜交型マイクロX線CT顕微鏡 (XRM)
新規導入装置 X線分析顕微鏡 (μ-XRF) の紹介
高感度EDX、高傾斜3Dトモグラフィー、クライオホルダ搭載の高感度TEM分析
半導体の格子欠陥･界面の性質を解明する第一原理計算
全固体電池正極層のSEM/TEMによる劣化評価
ナトリウムイオン電池負極のSEM-EDXによるNa分布観察
全固体電池セルの高分解能非破壊観察
構成部材ごとに解析事例をご紹介しています
立会分析は日産アークへ
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