日本表面真空学会マイクロビームアナリシス技術部会第23回研究会にて講演を行います。

「走査型透過X線顕微鏡による接着界面状態の考察」
発表者：伊藤 孝憲

日本表面真空学会マイクロビームアナリシス技術部会第23回研究会
主催：日本表面真空学会
日時：2025年12月26日（金）14時～
開催場所（対面とZoomオンラインのハイブリッド開催）
場所：東京理科大学　神楽坂キャンパス1号館17階　大会議室
https://www.jvss.jp/division/mba/symposium.php