日本顕微鏡学会 2026年 新春電子顕微鏡解析技術フォーラムにて講演を行います。

「クライオ電顕技術を用いた材料系試料のその場観察」
発表者：稲葉 健介
クライオ技術を用いた電池系スラリーの観察やアイオノマーの湿潤状態等の観察結果を報告します。

日本顕微鏡学会 2026年 新春電子顕微鏡解析技術フォーラム
主催：日本顕微鏡学会 電子顕微鏡解析技術分科会
日時：2026年01月16日（金）13:00～17:30
場所：名古屋大学
https://microscopy.or.jp/20251111-1/