第65回 表面分析研究会にて講演を行います。

「全固体電池における劣化解析技術」
発表者：中井 朋香
斜め切削XPSを中心として他の分析手法も組み合わせたASSBの総合的な劣化解析事例について発表します。

第65回 表面分析研究会
主催：一般社団法人 表面分析研究会
日時：2026年03月05日（木）-6日 (金)
場所：Shimadzu Tokyo Innovation Plaza (島津製作所 殿町事業所)
https://www.sasj.jp/meetings/65th/index.html