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新規技術資料 新規導入装置_X線分析顕微鏡 (μ-XRF) の紹介 を掲載しました。
X線透過像と蛍光X線による元素分布情報を同時に取得することが可能です。また、大型サンプルをそのまま分析でき、高輝度X線プローブで埋没した微小異物の高分解能分析が可能です。測定室の雰囲気制御によって、炭素、酸素などの検出も可能なため、有機物や腐食の判定にも利用できます。
https://www.nissan-arc.co.jp/services/f807/
X線透過像と蛍光X線による元素分布情報を同時に取得することが可能です。また、大型サンプルをそのまま分析でき、高輝度X線プローブで埋没した微小異物の高分解能分析が可能です。測定室の雰囲気制御によって、炭素、酸素などの検出も可能なため、有機物や腐食の判定にも利用できます。
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