新規技術資料掲載のお知らせ温度制御FT-IR分析 – 加熱ATRによる高分子材料の表面分析 –

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新規技術資料掲載のお知らせ　温度制御FT-IR分析 – 加熱ATRによる高分子材料の表面分析 –

新規技術資料　温度制御FT-IR分析 – 加熱ATRによる高分子材料の表面分析 –　を掲載しました。
エバネッセント波を利用したATR (全反射) 法は、ATR結晶に試料を密着させ試料表面の官能基情報を得る手法です。測定深さは、ATR結晶の材質と入射角で変わりますが0.2～5μmの範囲です。加熱ATR法では、表面官能基の温度変化を利用して、高分子材料表面の熱履歴を調査できます。

https://www.nissan-arc.co.jp/services/f166/

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