2026年 2月10日号 メールマガジンを発行しました
| | 日産アーク メールマガジン | | 2026年 2月10日号 | | 日産アーク メールマガジンをお届けします。
≡資料公開≡ 「ラマン分光法と共焦点マッピングをわかりやすく解説」
≡資料公開≡ 「半導体･電子デバイス分野における材料分析と構造評価」
＼外部発表／ 「スペクトル超解像技術応用研究会」
＼外部発表／ 「第65回 表面分析研究会」
＼外部発表／ 「第73回 応用物理学会春季学術講演会」
| | 『ラマン分光法と共焦点マッピングをわかりやすく解説』を公開しました | | ラマン分光法 (Raman Spectroscopy) は、試料にレーザー光を照射し、散乱する光 (ラマン散乱光) の波長変化 (ラマンシフト) を分析する手法で、分子構造や結晶構造、化学組成などを非接触で分析することが可能です。また、共焦点ラマン分光法を用いることで試料内部を非破壊･非接触で三次元測定することも可能です。 |  | | | | | 『半導体･電子デバイス分野における材料分析と構造評価』を公開しました | 日産アークは、薄膜･界面を中心とした高度な材料分析に強みを持ち、X線CTによる非破壊3D観察や放射光･TEMを用いた構造解析、薄膜物性評価など多様な技術を提供しています。日産アークは、薄膜･界面を中心とした高度な材料分析に強みを持ち、X線CTによる非破壊3D観察や放射光･TEMを用いた構造解析、薄膜物性評価など多様な技術を提供しています。
半導体分野における評価項目･手法のうち、「構造観察」「機械物性評価」「電気的特性評価」について紹介します。くわしくは、(詳細情報) でご確認ください。
|  | | | | | 『スペクトル超解像によるXPSの定量下限向上を目指した基礎的検討事例』について、当社の古賀 遼が講演を行います | 会合：スペクトル超解像技術応用研究会
主催：公益財団法人 科学技術交流財団
日時：2026年 2月18日 (水) 11:00-12:00
場所：オンライン
題目：「スペクトル超解像によるXPSの定量下限向上を目指した基礎的検討事例」
概要：Siウェハ上の有機薄膜を事例にスペクトル超解像によるXPS測定のS/N向上効果の実証と微小部測定への応用可能性について発表します。
| | | 『全固体電池における劣化解析技術』について、当社の中井朋香が講演を行います | 会合：第65回 表面分析研究会
主催：一般社団法人 表面分析研究会
日時：2026年 3月 5日 (木)-6日 (金)
場所：Shimadzu Tokyo Innovation Plaza (島津製作所 殿町事業所)
題目：「全固体電池における劣化解析技術」
概要：斜め切削XPSを中心として他の分析手法も組み合わせたASSBの総合的な劣化解析事例について発表します。
| | | | | 第73回 応用物理学会春季学術講演会で講演と企業ブース展示を行います | 題記学術講演会において、当社の伊藤孝憲が講演を行います。また、企業展示ブースにも出展しますので、ぜひお立ち寄りください。ブースでは日産アークの非破壊観察、薄膜物性評価、電子状態解析、X線全散乱PDF解析などをご紹介予定です。
会合：第73回 応用物理学会春季学術講演会
主催：公益財団法人 応用物理学会
会期：2026年 3月15日 (日)-18日 (水)
講演日時：2026年3月17日(火) 9:00-9:15
場所：東京科学大学 大岡山キャンパス＆オンライン
講演題目：「X線および電子線PDF解析を用いたSi基板上アモルファスSiO2薄膜の構造評価手法の検討」
概要：SiO2ガラスプレートを用いてX線全散乱PDF解析におけるin-planeおよびout-of-plane測定法を検討し、得られた手法をSi基板上アモルファスSiO2薄膜に適用しました。さらに、電子線回折を用いたPDF解析により膜表面側および基板界面側の局所構造評価を行った結果を報告します。
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