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被膜単体の弾性率や膜厚を評価することが可能です
AFMによるSi/Gr混合負極の被膜分析
原子間力顕微鏡 (AFM) を用いることにより、500nm～80μmエリアにおける活物質上に形成された被膜単体の弾性率や、その膜厚を評価することが可能です。ラマン分光法との組み合わせにより、GrおよびSi系などの活物質種による状態比較も可能です。
AFMによる弾性率マッピング
AFMを用いることで、微小領域の弾性率分布を可視化できます。さらに、カンチレバーの押し込み深さを変化させることにより、深さ方向での弾性率分布の変化を評価することができます。
被膜単体の弾性率と膜厚の解析
ラマンマッピングで事前にSi系活物質を確認した後、同一箇所をAFMで観察することで、Si系活物質を識別しました。弾性率像①～⑤のGr部とSi系部の押し込み深さと弾性率をプロットすることにより、被膜単体の弾性率や被膜の厚みを見積もることが可能です。
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