表面分析研究会第57回表面分析研究会

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表面分析研究会第57回表面分析研究会
ISO 29081:2010　AESにおける帯電制御の文献紹介
発表者：荒木祥和
2022.3.3～4　オンライン開催

マイクロX線顕微鏡 (XRM) での高分解能観察

新規導入装置_マイクロX線顕微鏡 (XRM) の紹介

新規導入装置 X線分析顕微鏡 (μ-XRF) の紹介

高感度EDX、高傾斜3Dトモグラフィー、クライオホルダ搭載の高感度TEM分析

構成部材ごとに解析事例をご紹介しています

立会分析は日産アークへ

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