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新規技術資料 導通不良の原因調査事例 -マニュピレータ導通試験とFT-IR成分分析- を掲載しました。
導通不良には様々な原因があります。原因調査のポイントは、①「不良個所を特定する」と②「この部位に存在する物質を明らかにする」ことです。ここではマニピュレータによる導通不良個所の特定と、FT-IR法による端子付着物分析をご紹介します。
https://www.nissan-arc.co.jp/services/f170/
導通不良には様々な原因があります。原因調査のポイントは、①「不良個所を特定する」と②「この部位に存在する物質を明らかにする」ことです。ここではマニピュレータによる導通不良個所の特定と、FT-IR法による端子付着物分析をご紹介します。
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