新規技術資料掲載のお知らせ 新規導入装置_高感度分析TEMの紹介

新規技術資料 新規導入装置_高感度分析TEMの紹介 を掲載しました。
高感度のEDX検出器を搭載することで短時間にノイズの少ないマッピングを行うことが可能です。高傾斜3Dトモグラフィーによって3次元構造の可視化が可能です。その他、クライオ観察、特注の制限視野絞りを用いた結晶・非晶相の構造解析を行うことが可能です。

https://www.nissan-arc.co.jp/services/f808/
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