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in-situ XAFSにより、局所構造や電子状態の分析が可能です
in-situ XAFSの特徴
・特定元素に関して電子状態および原子レベルでの局所構造が評価できます。
・温度や雰囲気を変化させた状態での測定『その場 (in-situ ) 分析』が可能です。
・低濃度 (サブ％程度から) 、ナノメートルサイズの微粒子でも評価ができます。
・さらに希薄な試料では蛍光法、より高速な反応には波長分散XAFS法が適用できます。
助触媒の添加剤効果の解析例
自動車用三元触媒の浄化性能の向上を目的として、モデルケースとしてアルミナ (Al2O3) 上にパラジウム (Pd) を担持させた触媒のPdについて、セリア (CeO2) 助触媒の添加の有無による違いを、実際の排気ガスにより繰り返される酸化還元の雰囲気変動下で評価しました。
解析結果
CeO2助触媒の存在により、担持PdはAl2O3担体上のPdより100℃近く低温側で還元されています。
PdはCeO2と強い相互作用を生じ、高分散担持され、Pd-O-Pd結合が少なくなっています。
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