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加工、観察ダメージを低減したSEIの組成分布を可視化できます
SEIの組成分布観察
不可逆反応による生成物であるSEIは、電池性能に影響を与えるため、その厚み、組成分布を把握することが重要です。
FIB加工試料のTEM観察により、SEIが膜厚方向にどのような組成から構成されているかをnmオーダーで可視化できます。一方で、SEIはイオンビーム･電子線によるダメージの影響を受けやすく、低ダメージでの加工･観察が重要です。
SEIのクライオ非暴露TEM-EDX/EELSマッピング
『クライオ非暴露機能』､『Xe-PFIB加工』､および『高感度EDX/EELS検出器』を組み合わせることによって低ダメージでの分析が可能です。
サイクル劣化前後におけるグラファイト負極表面SEIの組成分布を可視化した事例を示します。
初期品において、表面にフッ素 (F) が多く、内部に酸素 (O) が多い様子が見られ、SEIが層構造を持つことが明らかになりました。サイクル品では、表面にF､リチウム (Li) が100nm程度の粒子状で存在しており、サイクルの過程でSEIが不均一に成長していることが示唆されました。
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