X線吸収微細構造(XAFS)による触媒の構造および状態解析

・特定元素に関する電子状態および原子レベルでの局所構造が評価できます。
・温度や雰囲気を変化させた状態での測定『その場(In-situ)分析』が可能です。
・低濃度、ナノメートルサイズの微粒子の評価ができます。
高温ガス雰囲気in-situ XAFS測定により触媒材料の特性発現メカニズムを解明します。
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