放射光CTによるリチウムイオン二次電池の高分解能三次元観察
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SEMによる三次元観察法
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マイクロX線顕微鏡 (XRM) での高分解能観察
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Cryo-3D-STEM法を用いた液中リポソームの三次元形状観察
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パワー半導体接合材のX線非破壊観察
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三次元観察法によるナノ粒子観察と材料特性解析
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光学観察ユニット付属DSCによる多層フィルムの組成分析
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観察及びFT-IR、熱分析による樹脂材料の劣化分析と寿命予測
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断面TEM-EDX-EELSを用いたSiCパワーデバイスのC析出現象観察
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SEM、TEM観察による触媒の微細孔可視化
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Cryo-SEMによる水系スラリー中のバインダー / 導電助剤分布観察
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断面観察とイメージングFT-IRによる塗装の解析
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金属部材の破面観察による破損原因解析
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N-ARC法の断面観察と破面解析によるPPSの溶着界面評価
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Os染色-SEM観察によるSBR系バインダーの分布観察
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NIR、TEM観察とAFM-IRによるセルロースナノファイバー (CNF) 複合材の分散構造解析
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XPSを用いたSEIの表面及び深さ方向の分布観察
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パワーデバイスの信頼性試験と複合観察
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エタン急速凍結装置を用いた水溶液中リポソームのCryo-TEM観察
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クライオ非暴露TEM-EDX/EELSによるSEIの組成分布観察
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ハイコントラスト樹脂を用いたLIB負極材の3D-SEM観察
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Cryo-PFIBによる全固体電池正極スラリーの断面観察
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オリジナル技術「MVP法」による多孔質材料観察法
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後方散乱電子回折法 (EBSP) によるスポット溶接部の組織観察
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微小部の密着性評価とAFMおよびTEMでの剥離形態観察
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染色法を用いたSEMによるSBR系バインダーの分布観察
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SEMによるLIBセパレータの形態観察
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SEM、TEMによるLIB正極の形態観察および元素分析
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TEMによるLIB負極材の断面形態観察
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光学 / 電子顕微鏡によるLIB負極表面の大気非暴露形態観察
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電子線表面イメージング顕微鏡 (EP-SIM) による観察事例
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FIB低加速仕上げ法によるダメージ層を低減したTEM観察
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共焦点ラマンマッピングによるスキンケア膜の三次元分布観察
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N-ARC法 / イメージングIRを用いた溶着界面の状態観察
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観察 / 総合解析によるプラスチック材料の破損原因調査
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SEM断面観察を用いた正極材の形態観察および画像解析
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SEM, TEM, PFIBを用いたSEIの形態総合観察
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断面観察とイメージングFT-IRによる塗膜の成分分析と化学状態の可視化
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高分子材料における劣化メカニズム解析
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イメージングIRによる溶着界面の結晶化度解析
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